OmniScan X3

全聚焦相控阵探伤仪
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概述 应用 技术规格

概述

OmniScan X3 64
提供高级功能的OmniScan X3 64相控阵和TFM探伤仪
威力强大,小巧便携

OmniScan X3 64相控阵探伤仪沿用了已经现场验证、坚固耐用、轻盈便携的OmniScan X3外壳,其强大的聚焦功能得到了更大的晶片孔径容量的支持,可使您充分利用64晶片相控阵探头,进行128晶片孔径的TFM检测。 您可以利用这款仪器的增强性能,迎接检测较厚、衰减性较强材料的挑战,并提升您的潜力,为更广泛的应用开发新程序。

提供创新型TFM功能的OmniScan X3相控阵探伤仪
信心满满,昭然可见

OmniScan X3相控阵探伤仪是一个完备的相控阵工具箱。 其性能强大的工具,包括全聚焦方式(TFM)成像和高级可视化能力,在其高质量成像功能的支持下,可使您更加充满信心地完成检测。

创新、高效的TFM(全聚焦方式)

提前确认TFM(全聚焦方式)声波覆盖范围

声学影响图(AIM)工具可以基于您的TFM(全聚焦方式)模式、探头、设置和模拟反射体,即时提供灵敏度的可视化模型。

声学影响图(AIM)工具消除了扫查计划创建过程中的猜测因素,因为屏幕上会显示某个声波组(TFM模式)的效果图,使您看到灵敏度消失的位置,并对扫查计划进行相应的调整。

OmniScan X3 64
OmniScan X3 64

用PCI查看您错过了什么

我们创新性的无振幅实时相位相干成像(PCI)提高了对小缺陷的灵敏度和在噪声材料中的穿透力,同时简化了设置和尺寸调整。从MXU 5.10开始,可用于OmniScan X3 64探伤仪。

虚拟协作,几乎无处不在

X3远程协作服务(X3 RCS)使您能够共享屏幕,允许远程协作者控制装置,并与几乎位于世界任何地方的参与者主持视频会议。

校准更完善、更迅速

OmniScan X3校准器可以高速跟踪信号。 在几分钟内完成多组校准。

看似熟悉、实有提升的OmniScan操作体验

拥有OmniScan或接受过OmniScan培训的用户将很容易过渡到OmniScan X3相控阵探伤仪,而新用户会发现很容易学会如何操作OmniScan X3。

了解更详细信息

受益于64晶片脉冲发生器相控阵技术

使用OmniScan X3 64探伤仪可以充分发挥64晶片相控阵探头的潜力,提高焦点处的分辨率。

向右滑动:使用32通道OmniScan X3探伤仪和64晶片探头(5L64-A32型号)获得的图像。虽然这个S扫描是高质量图像,但是其分辨率反映了以下事实:只有中间32个晶片可用于聚焦法则。

向左滑动:OmniScan X3 64探伤仪使用一个全部64晶片孔径(5L64-A32探头)获得的图像,在焦点处提供了更好的PA分辨率,可使您更轻松地分辨出靠在一起或聚集成簇的缺陷指示。

实现全部128晶片孔径TFM(全聚焦方式)

新一代电子设备使TFM成像成为可能,TFM成像可为更小的缺陷指示提供更好的聚焦能力,并改善了信噪比(SNR)。 OmniScan X3 64型号提供128晶片孔径的能力,增强了图像清晰度。

向右滑动:该TFM图像使用OmniScan X3 32通道型号和一个128晶片探头(3.5L128-I4型号)的64个晶片获得。

向左滑动:OmniScan X3 64探伤仪可使我们使用我们的3.5 MHz、128晶片I4探头的全部128晶片孔径采集这张图像。 请注意这张图像提高的分辨率和降低的背景噪音。

实现速度高达4倍的TFM(全聚焦方式)

使用64晶片探头时,TFM(全聚焦方式)的采集速度可最多提高到4倍。 与拥有32个脉冲发生器的型号相比,OmniScan X3 64探伤仪得益于其更大的孔径能力,使检测效率有了显著的提高。

OmniScan X3 64

改进的相控阵技术

  • 速度可达到OmniScan MX2探伤仪的3倍(最大脉冲重复频率)
  • 单独的衍射时差(TOFD)菜单,加快了校准工作流程
  • 800%的高波幅范围,减少了重新扫查的需要
  • 机载双晶线阵和双晶矩阵探头的支持性能,加速了创建设置的过程

使用相控阵技术简化了腐蚀监测

利用相控阵技术进行腐蚀检测具有很多优势,其中包括较大的覆盖范围和出色的分辨率。 但是,熟练掌握相控阵技术具有一定的挑战性。 OmniScan X3探伤仪通过精心设计的软件和简单流畅的菜单将各种高级功能(闸门同步)组合在一起,可使您更加轻松地获得准确的数据。 得益于其A扫描同步处理和手动时间校正增益(TCG),您可以快速配置您的设置。

OmniScan X3 64

OmniScan X3系列

型号 OmniScan X3 OmniScan X3 64
配置 16:64PR 16:128PR 32:128PR 64:128PR
应用 腐蚀监测、管道完整性、手动PA/TFM、TOFD、小型管道 多组高效薄焊缝、PA & TOFD、风力叶片制造、复合材料 多组高效厚焊缝、PA & TOFD、奥氏体/CRA/异种金属焊缝、TFM 多组高效极厚焊缝、PA和TOFD、奥氏体/CRA/异种金属焊缝、高效TFM、高温氢致腐蚀(HTHA)、高级应用开发
脉冲发生器(PA) 16 16 32 64
接收器 64 128 128 128
TFM晶片 32 32 64 128
UT通道(P/R) 2 2 2 2
最多2个(PA、UT/TOFD、TFM)
或2个PA带1个TOFD
总共最多8个
TFM:最多4个
总共最多8个
TFM:最多4个
总共最多8个
TFM:最多4个
带宽频率 0.5 ~ 18 MHz 0.2 MHz ~ 26.5 MHz
最大脉冲宽度(PA) 500 ns 1000 ns
电压PA 40 V、80 V和115 V / 单极负极 10 Vpp、20 Vpp、40 Vpp、80 Vpp、120 Vpp和160 Vpp / 双极方波脉冲
内部SSD存储容量 64 GB 1 TB
所有其他功能和规格 完全相同

为您的NDT工作流程提供完整的解决方案

MXU图标 MXU

OmniScan X3探伤仪的MXU机载软件可指导您完成检测工作流程。 了解更多信息

OmniPC图标 OmniPC

我们免费、基于计算机的OmniPC分析软件与OmniScan X3、OmniScan MX2和OmniScan SX探伤仪的数据文件相兼容。 了解更多信息

WeldSight图标 WeldSight

WeldSight高级分析和采集PC软件与OmniScan X3探伤仪相兼容。 为了提高检测效率,安装在采集单元中的WeldSight Remote Connect(WeldSight远程连接)应用程序可使您利用WeldSight软件完成整个检测工作流程。 了解更多信息

应用

用于检测焊缝的OmniScan X3探伤仪

用于检测腐蚀和其他损伤情况的OmniScan X3探伤仪

用于探测早期高温氢致(HTHA)缺陷的OmniScan X3探伤仪

HTHA检测解决方案

利用我们配备高灵敏度探头和OmniScan X3 64探伤仪先进成像功能的完整且易于使用的解决方案,更早地检测高温氢致(HTHA)。我们专为HTHA设计的一系列线性和双晶线阵探头可广泛覆盖焊缝、热影响区和母体材料。它们与各种扫描仪和编码器兼容,可进行全面、高效的HTHA检测。

技术规格

OmniScan X3系列的技术规格

以下技术规格适用于所有OmniScan X3和OmniScan X3 64型号。

 • 数据技术规格 • 声学技术规格 • TFM/FMC • 操作环境

类型

多组、多模式超声探伤仪
尺寸(宽 × 高 × 厚) 335 mm × 221 mm × 151 mm
重量 5.7 kg(含1块电池)
硬盘驱动器容量 OmniScan X3:内置64 GB SSD
OmniScan X3 64:内置1 TB SSD
借助外置USB驱动盘可扩展容量
存储设备 SDHC卡和SDXC卡,或者大多数标准USB存储设备
仅与NTFS和FAT32格式兼容。
最大机载文件容量 25 GB
GPS 有(除非针对某些地区另有规定)
报警 3
无线连接

有 - 包装内含无线局域网适配器(型号因地区而异)

PA接口 1个接口
UT接口 4个(2个通道P/R)
认证 ISO 18563-1:2015
ISO 22232-1:2020
显示
类型 TFT LCD(薄膜晶体管液晶显示屏),电阻式触摸屏
尺寸 269毫米(10.6英寸)
分辨率 1280 × 768像素
颜色数量 1千6百万
可视角度 水平:−85° ~ 85°
竖直:−85° ~ 85°
输入/输出(I/O)端口
USB 2.0 2个端口(1个位于电池的后面)
USB 3.0 1个端口
视频输出 视频输出(HDMI)
存储卡 SDHC端口
通信 以太网接口
输入/输出(I/O)线
编码器 双轴编码器线(正交方向)
数字输入 6个数字输入,TTL
数字输出 5个数字输出,TTL
采集开关 将1个数字输入配置为采集开关
电源输出线 5 V额定值,1 A(短路保护),在1 A时为12 V输出
外接DC电源
直流输入(DC-IN)电压 15 VDC ~ 18 VDC(最小为50 W)
连接器 圆形,2.5毫米引脚直径,中心正极
电池
类型 锂离子电池
容量 87 Wh
电池数量 2
运行时间 2个电池运行5个小时(具有热插拔性能)
PA/UT配置
位深 16位
最大脉冲重复频率(PRF) 20 kHz
频率
有效数字化频率 最大100 MHz
显示
刷新率 A扫描:60 Hz;S扫描:20 Hz ~ 30 Hz
包络(回波动态模式) 有:体积校正的S扫描(30 Hz)
A扫描高度 高达800%
同步
根据内部时钟 1 Hz ~ 10 kHz
外部步速
根据编码器 双轴:1步 ~ 65536步

数据技术规格

处理
A扫描数据点的最大数量 最多16384个
实时平均 PA:2、4、8、16
UT:2、4、8、16、32、64
检波 射频、全波、正半波、负半波
滤波 PA通道(OmniScan X3):8个低通、6个带通和4个高通滤波器
PA通道(OmniScan X3 64):9个带通和7个高通滤波器
UT通道:8个低通、6个带通和4个高通滤波器(在TOFD配置下,有3个附加的滤波器)
视频滤波 平滑(根据探头频率范围调节)
可编程TCG
点的数量 32个:每个聚焦法则有一条TCG(时间校正增益)曲线
范围 相控阵(标准):40 dB,步距为0.1 dB
常规超声:100 dB,步距为0.1 dB
最大斜率 相控阵(标准):40 dB/10 ns
常规超声:40 dB/10 ns

声学技术规格

型号 OmniScan X3 OmniScan X3 64 两款仪器
脉冲发生器 PA通道 PA通道 UT通道
电压 40 V、80 V、115 V 10 Vpp、20 Vpp、40 Vpp、80 Vpp、120 Vpp和160 Vpp 85 V、155 V和295 V
脉冲宽度 30 ns ~ 500 ns范围内可调,分辨率为2.5 ns。 30 ns ~ 1000 ns范围内可调(双极脉冲的半个周期或负脉冲的持续时间);分辨率为5 ns。 30 ns ~ 1000 ns范围内可调,分辨率为2.5 ns。
下降时间 < 10 ns < 10 ns < 10 ns
脉冲形状 负方波脉冲 双极负-正方波脉冲,负方波脉冲
输出阻抗 脉冲回波模式:28 Ω
一发一收模式:24 Ω
35 Ω < 30 Ω
接收器 PA通道 UT通道
增益范围 0 dB ~ 80 dB,最大输入信号为550 mVp-p(满屏高)。 0 dB ~ 80 dB,最大输入信号为900 mVp-p(满屏高)。 0 dB ~ 120 dB,最大输入信号为34.5 Vp-p(满屏高)。
输入阻抗 脉冲回波模式,9 MHz时:57 Ω ± 10%
一发一收模式,9 MHz时:100 Ω ±10 %
在13 MHz时,120 Ω ±10% 脉冲回波模式:50 Ω
脉冲发送接收模式:50 Ω
系统带宽 0.5 MHz ~ 18 MHz 0.2 MHz ~ 26.5 MHz 0.25 MHz ~ 28 MHz
声束形成 PA通道 UT通道
扫查类型 单一、线性、扇形、混合和全聚焦方式(TFM) -
最大孔径 OMNIX3-PATFM1664PR = 16晶片
OMNIX3-PATFM16128PR = 16晶片
OMNIX3-PATFM32128PR = 32晶片
OMNIX3-PATFM64128PR = 64晶片 -
接收晶片数量 OMNIX3-PATFM1664PR = 64接收晶片
OMNIX3-PATFM16128PR = 128接收晶片
OMNIX3-PATFM32128PR = 128接收晶片
OMNIX3-PATFM64128PR = 128晶片 -
聚焦法则的数量 高达1024个 -
发射的延迟范围 0 µs ~ 10 µs,增量为2.5 ns。 0 µs ~ 10 µs,增量为5 ns。 -
接收的延迟范围 0 µs ~ 6.4 µs,增量为2.5 ns。 -

TFM/FMC

被支持的模式 脉冲回波:L-L、TT和TT-TT
串列:LL-L、TT-T、TT-L、TL-T、LT-T、TTT-TT和TL-L
组数量 同时显示最多4个全聚焦方式(TFM)组
最大孔径 64晶片孔径,用于64:128PR
64晶片扩展孔径(仅用于32:128PR)
32晶片扩展孔径,用于16:64PR和16:128PR
128晶片扩展孔径,用于64:128PR
图像分辨率 高达1024 × 1024(1 M点),针对每个全聚焦方式(TFM)声波组
实时全聚焦方式(TFM)包络

操作环境

侵入保护评级 符合IP65评级标准(完全防尘,且可抵御来自各个方向的水射流,6.3毫米喷嘴)
防撞击评级 通过美军标准MIL-STD-810G中的坠落测试
预期用途 室内和室外使用
海拔高度 高达2000米
操作温度 −10°C ~ 45°C
存储温度 −20°C ~ 60°C (内含电池)
−20 °C ~ 70 °C (不含电池)

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